第八届中国二次离子质谱会议圆满落幕

2021/12/13

      2021年11月13日，由中国真空学会主办，中山大学测试中心和香港科技大学材料表征与制备中心联合承办，广东省分析测试协会表面分析专业委员会以及材料学习网协办的第八届中国二次离子质谱会议在珠海开幕，受国内新冠疫情影响，本次会议采用线上与线下结合的方式，多位国内外知名专家学者就二次离子质谱领域展开学术交流。

      1993年至今，中国二次离子质谱会议已成功举办七届，业已成为全国二次离子质谱领域的学术盛会。今天，我们再一次相聚，共话二次离子质谱技术研究与发展，加强二次离子质谱研究领域的学术交流。

 

SIMS2021大会现场 

      大会由中山大学测试中心陈建研究员主持开幕式，由中山大学测试中心主任欧阳钢锋教授与大会主席香港科技大学翁禄涛教授为致辞，对本次会议的顺利举办表达了美好的愿景，祝愿本次会议取得圆满成功。

中山大学测试中心陈建研究员主持大会开幕式

中山大学测试中心主任欧阳钢锋教授致辞

大会主席翁禄涛教授致辞

      本次线上线下参会人数300余人，大会共安排了大会报告6个、邀请报告12个、口头报告8个、墙报10篇。报告内容聚焦二次离子质谱技术在各领域的研究与应用。其中，我们也邀请了二次离子质谱厂家给我们带来精彩的技术交流报告。

李献华院⼠，中国科学院地质与地球物理研究所

报告题目：嫦娥五号⽞武岩精确定年—超⾼空间分辨率SIMS定年技术与应⽤ 

Prof. Hisayoshi Yurimoto, Hokkaido University (Japan)

报告题目：Isotope microscope and isotope nanoscope 

Associate Prof. Jiro Matsuo, Kyoto University (Japan)

报告题目：Sputtering of Organic Molecules with Cluster Ion Beams 

张新荣教授，清华大学化学系 

报告题目：单细胞质谱成像分析

Wensly Yip执⾏总监，PHI CHINA / ULVAC-PHI 

报告题目：Newest modern ToF-SIMS development & its applications in various fields

Dr. Paul Van der Heide (Director), Materials and Component Analysis IMEC (Belgium)

报告题目：SIMS for CMOS: Past, present and future 

由中国科学院⼤连化学物理所李海洋研究员、中国科学院化学研究所汪福意研究员、北京艾飞拓科技有限公司高聚宁总经理、中国科学院金属研究所张磊研究员、清华⼤学李展平高级工程师、CAMECA刘红艳应用经理、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所李坊森副研究员、台湾积体电路制造股份有限公司桂东经理、中国科学院⼴州地球化学研究所夏⼩平正高级工程师、中国科学院地质与地球物理研究所郝佳龙博士、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所黄荣高级工程师、胜科纳米（苏州）有限公司华佑南博士给我们带来精彩的大会邀请报告。

中国科学院化学研究所赵耀副研究员、澳门科技⼤学⽩丽萍副教授、胜科纳⽶（苏州）有限公司赵弇斐博士、兰州大学王铁山教授、普发真空技术（上海）有限公司马良、中国矿业⼤学（北京）梁⾔慈博士、广东以色列理工学院Prof. AleksandraBaron-Wiechec以及中国科学院金属研究所代春丽高级工程师带来口头报告。

此外，在11月12日的下午，大会邀请了著名学者中国科学院化学研究所汪福意研究员、香港⼤学蒋海波副教授、中国科学院地质与地球物理研究所李秋立研究员就ToF-SIMS技术在生命科学、在月球样品研究中的应用进行会前讲座，吸引了近60余名学生及相关技术人员参会。

会议尾声，中山大学测试中心陈建研究员做会议总结，宣布获得本次大会“优秀墙报”名单，并观看了会务组精心准备的本届会议精彩视频。而后正式宣布，经大会委员会决定，将下一届的会议举办权正式交接中国科学院金属研究所。中国科学院金属研究所代表张磊研究员热情洋溢地介绍了沈阳这座美丽城市，并欢迎大家2023年相聚沈阳！

大会大合照