表面分析专业委员会举办"XPS原理、数据处理及实验要点"培训讲座

2018/5/14

        为了提高我省表面分析技术应用科技工作者及用户对光电子能谱谱图解析及数据处理的水平，广东省分析测试协会表面分析专业委员会邀请XPS资深专家中科院大连化学物理研究所盛世善研究员，于2018年5月7日在中山大学在测试中心420讲学厅面向来自中山大学、暨南大学、中科院能源所、部分高新企业等单位的老师、学生和科研工作者，做了“XPS原理、数据处理及实验要点”的培训讲座；同时邀请高德英特北京科技有限公司鲁德凤经理介绍了重要的表面分析技术TOF-SIMS在材料表征中的应用。表面分析专业委员会主任委员陈建研究员、秘书长谢方艳高级实验师、委员张少鸿高工、委员龚力老师参加了此次培训讲座，老师与学生济济一堂， 100余人认真聆听报告，讲学厅中座无虚席。

        盛世善研究员讲述了XPS的相关知识，首先从X射线光电子能谱的原理及基本概念出发，全面介绍了表面分析技术，结合XPS的具体应用实例重点讲解了XPS的谱图解析与数据的后处理等相关内容。盛老师针对学生提出的一些问题做了详细讲解。讲座结束后，众多师生也同盛老师进行了积极的互动，针对自己的困惑等提出疑问，盛教授分别给出了相应的解决方案。

中科院大连化学物理研究所盛世善研究员

高德英特北京科技有限公司鲁德凤经理

       此次讲座内容丰富、信息量大，通过本次培训讲座使得参加培训的与会人员对于光电子能谱技术从原理概念到数据解析都有了更加深入的认识，对未来的科研工作起到了良好的指导作用。通过此次技术培训，大力促进了我省表面分析技术特别是XPS和TOF-SIMS技术的普及、技术交流培训等工作。